Amemiya N., Iijima Y., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Kakimoto K., Yamada Y., Nishioka T., Enomoto N., Zhenan J.
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Funaki K., Iwakuma M., Yamada Y., Shiohara Y.(shiohara@istec.or.jp), Nigo M., Inoue D.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, ac losses, angular dependence, experimental results, fabrication
Jiang Z., Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Amemiya N.(ame@rain.dnj.ynu.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, substrate Hastelloy, ac losses, experimental results, fabrication
Saitoh T., Kakimoto K., Iijima Y.(ijm@rd.fujikura.co.jp), Sutoh Y., Ajimura S.
Kikuchi A., Yoshida Y., Banno N., Takeuchi T., Inoue K., Iijima Y.(IIJIMA.Yasuo@nims.go.jp)
Ключевые слова: MgB2, precursors, wires, fabrication, heat treatment, critical current, magnetic field dependence, critical caracteristics
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Honjo T., Matsuda J.S.(jmatsuda@istec.or.jp), Yajima A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, microstructure, heat treatment, TFA-MOD process, fabrication, substrate Hastelloy, IBAD process
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K., Honjo T., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, IBAD process, substrate Hastelloy, critical current, fabrication, critical caracteristics
Saitoh T., Kakimoto K., Iijima Y.(ijm@rd.fujikura.co.jp), Sutoh Y., Ajimura S.
Iijima Y., Muroga T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Hirayama T., Hirabayashi I., Kato T.(tkato@jfcc.or.jp), Ikuhara Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate Hastelloy, buffer layers, grain alignment, microstructure, IBAD process, PLD process, fabrication, coated conductors
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Ajimura S., Sutoh Y.(ysutoh@fujikura.co.jp)
Iijima Y., Goto T., Muroga T., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Shiohara Y., Watanabe T., Honjo T., Izumi T.(izumi@istec.or.jp), Yamada Y., Miyata S., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A.
Tokunaga Y.(tokunaga@istec.or.jp), Fuji H., Teranishi R., Matsuda J., Asada S., Kaneko A., Honjo T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Murata K., Iijima Y., Saitoh T., Goto T., Yoshinaka A., Yajima A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate Hastelloy, TFA-MOD process, fabrication, critical current density, critical caracteristics
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Shiohara Y., Iwakuma M.(iwakuma@sc.kyushu-u.ac.jp), Funaki K., Yamada Y., Toyota K., Nigo M.
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Tokunaga Y.(tokunaga@istec.or.jp), Yajima A., Yoshinaka A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, substrate Hastelloy, IBAD process, microstructure, precursors, Jc/B curves, fabrication, critical caracteristics
Amemiya N., Jiang Z., Iijima Y., Saitoh T., Shiohara Y., Yamada M., Nishioka T.(nishi@rain.dnj.ynu.ac.jp)
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Inoue M., Matsushita T., Kakimoto K., Otabe E.S., Kiuchi M., Fukumoto Y.(fukumoto@aquarius10.cse.kyutech.ac.jp), Sawa H.
Yoshida Y., Iijima Y., Banno N., Takeuchi T., Inoue K., Kikuchi A.(kikuchi.akihiro@nims.go.jp)
Ключевые слова: MgB2, wires, films thick, precursors, diffusion process, fabrication, microstructure, Jc/B curves, critical caracteristics
Inoue K.(INOUE.Kiyoshi@nims.go.jp), Kikuchi A., Yoshida Y., Iijima Y.
Ключевые слова: LTS, wires, critical current, magnetic field dependence, fabrication, critical caracteristics, magnetic properties, new
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.